但四探針測(cè)試在原理上與圖二所示用銅棒測(cè)方阻的方法不同因電流場(chǎng)中僅少部分電流在內(nèi)端上兩根探針點(diǎn)上產(chǎn)生電壓電勢(shì)，比值為1F(DS)，F(xiàn)(DS)稱(chēng)為樣品直徑修正因子，與測(cè)試樣品的直徑D及四根探針之間的距離S有關(guān)，F(xiàn)(DS)值通過(guò)物理學(xué)理論計(jì)算得到，可直接從附表1查出(見(jiàn)產(chǎn)品操作手冊(cè))
但四探針測(cè)試在原理上與圖二所示用銅棒測(cè)方阻的方法不同因電流場(chǎng)中僅少部分電...
但四探針測(cè)試在原理上與圖二所示用銅棒測(cè)方阻的方法不同因電流場(chǎng)中僅少部分電...
